日本AND艾安得社長精推上皿天平

產(chǎn)品簡介
日本AND艾安得社長精推 FX-300GD上皿天平
日本AND艾安得社長精推上皿天平
電子天平一般采用應(yīng)變式傳感器、電容式傳感器、電磁平衡式傳感器，其中以電磁平衡式傳感器最為常用。其工作原理是當(dāng)秤盤上加上被稱物時(shí)，傳感器的位置檢測(cè)器信號(hào)發(fā)生變化，并通過放大器反饋使傳感器線圈中的電流增大，該電流在恒定磁場(chǎng)中產(chǎn)生一個(gè)反饋力與所加載荷相平衡

產(chǎn)品型號(hào)：FX-300GD

更新時(shí)間：2025-10-25

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：289

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超微量電子天平：最大稱量是 2 至 5g，其標(biāo)尺分度值小于（最大）稱量的 10-6，如 Mettler 的 UMT2 型電子天平等。
微量天平：稱量一般在 3 至 50g，其分度值小于（最大）稱量的 10-5，如 Mettler 的 AT21 型電子天平以及 Sartoruis 的 S4 型電子天平。
半微量天平：稱量一般在 20 至 100g，其分度值小于（最大）稱量的 10-5，如 Mettler 的 AE50 型電子天平和 Sartoruis 的 M25D 型電子天平等。
常量電子天平：最大稱量一般在 100 至 200g，其分度值小于（最大）稱量的 10-5，如 Mettler 的 AE200 型電子天平和 Sartoruis 的 A120S、A200S 型電子天平等。
分析天平：是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱。
精密電子天平：準(zhǔn)確度級(jí)別為 Ⅱ 級(jí)的電子天平的統(tǒng)稱。

準(zhǔn)備工作：選擇合適量程和精度的電子天平，確保天平已經(jīng)校準(zhǔn)，清潔天平，將其放置在平穩(wěn)、無震動(dòng)、無氣流和恒溫的環(huán)境中，避免陽光直射和強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
開機(jī)和預(yù)熱：打開天平電源，預(yù)熱一段時(shí)間，一般約 30 分鐘，以確保天平穩(wěn)定和準(zhǔn)確。
校準(zhǔn)：若天平未自動(dòng)校準(zhǔn)或環(huán)境條件變化較大，需手動(dòng)校準(zhǔn)天平，按照天平說明書進(jìn)行校準(zhǔn)操作，使用標(biāo)準(zhǔn)砝碼進(jìn)行外校。
去皮：在稱量物質(zhì)前，將空稱量容器放在稱量盤上，按下 “去皮" 按鈕，將顯示值歸零。
稱量物質(zhì)：將待稱量物質(zhì)緩慢放入稱量容器中，避免物質(zhì)溢出或沾附在稱量盤外部，讀取天平顯示的質(zhì)量值，并記錄結(jié)果，注意讀取時(shí)避免震動(dòng)和氣流干擾。
重復(fù)稱量：如需多次稱量相同物質(zhì)，重復(fù)去皮和稱量步驟，確保每次稱量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
關(guān)機(jī)和清潔：稱量完成后，關(guān)閉天平電源，用軟布或?qū)Ｓ盟⒆忧鍧嵎Q量盤，確保天平干凈。